2016年9月23日，2016LED失效分析與封裝技術專題研討會盛大開幕，為了零距離與客戶溝通交流，美信檢測特將參會客戶邀請至公司總部，參加本次研討會，同時參觀美信檢測實驗室，與技術工程師面對面交流。

會議開始，美信檢測研發(fā)中心經理王君兆以塑封器件的可靠性問題展開討論，內容豐富精彩，詳細分析了塑封器件的主要失效模式、可靠性評價及降額設計的相關問題。其中經典案例涉及燈具耐熱性能、散熱性能，界面分層帶來的危害，LED弱亮現(xiàn)象、熱失效分析等等。

美信檢測研發(fā)中心失效分析專家分析了LED燈具結溫測試方法及熱特性分析，內容涵蓋LED燈具散熱性能的評價方法、電學法實現(xiàn)結溫測量的基本原理、等效K系數(shù)實驗結論分享及LED結構熱阻模型的應用實例，得到了廣大專業(yè)觀眾的熱烈反響，在講解過程中，講師根據(jù)自己實操積累的經驗，分享了目前燈具結溫測試方面的一些特殊案例，與觀眾共同探討，如等效K系數(shù)實驗結論、LED結構熱阻模型應用實例等等。

最后，由美信檢測失效分析專家分享了表面分析技術的內容，主要講解了表面成分分析技術、樣品制備技術、材料表面表征等，圍繞LED測試案例詳細解析，LED chip變色分析、LED Chip表面孔洞缺陷、LED Chip表面3D形貌分析等等LED相關案例，通過實際案例分析了AES、XPS、TOF-SIMS、D-SIMS、EDS等表面分析技術的應用。

會后，在工作人員的精心安排下，專業(yè)聽眾參觀了美信檢測的實驗室，包含化學實驗室、物理實驗室、顯微分析實驗室、前處理實驗室、清潔度實驗室等，美信檢測技術工程師對各個實驗室做了詳細講解，特別講述了講師分享的實驗儀器，得到了聽眾的良好反饋。

【走進美信檢測】系列研討會，旨在使客戶交流技術知識的同時更多的了解美信檢測，與美信檢測技術工程師面對零距離交流溝通，為廣大客戶創(chuàng)造一個良好的交流平臺。【走進美信檢測】系列研討會將會持續(xù)舉辦，非常感謝廣大客戶對美信檢測的關注與支持。

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MTT（美信檢測）是一家從事材料及零部件品質檢驗、鑒定、認證及失效分析服務的第三方實驗室，網址：www.tywhcyw.com.cn，聯(lián)系電話：400-850-4050。