2016年10月26-28日，美信檢測(cè)亮相第七屆中國(guó)國(guó)際納米技術(shù)產(chǎn)業(yè)博覽會(huì)（簡(jiǎn)稱“納博會(huì)”），本屆博覽會(huì)主要聚焦納米新材料、分析與檢測(cè)、微納制造、納米生物與醫(yī)藥、納米環(huán)保與清潔等領(lǐng)域的產(chǎn)品與技術(shù)，展會(huì)現(xiàn)場(chǎng)，俄羅斯展團(tuán)、加拿大展團(tuán)、伊朗展團(tuán)、韓國(guó)展團(tuán)、北京展團(tuán)、深圳展團(tuán)、臺(tái)灣展團(tuán)及沙特展團(tuán)等超過8個(gè)國(guó)際與地區(qū)展團(tuán)攜帶納米技術(shù)領(lǐng)域的新產(chǎn)品與技術(shù)亮相納博會(huì)。

美信檢測(cè)受邀參加本次大會(huì)，目前先進(jìn)的納米級(jí)材料檢測(cè)技術(shù)現(xiàn)場(chǎng)展示與專業(yè)工程師的講解是展會(huì)的一大亮點(diǎn)，本次展會(huì)主要分享了高端表面分析技術(shù)，利用電子、光子、離子、原子、強(qiáng)電場(chǎng)、熱能等與固體表面的相互作用，測(cè)量從表面散射或發(fā)射的電子、光子、離子、原子、分子的能譜、光譜、質(zhì)譜、空間分布或衍射圖像，得到表面成分、表面結(jié)構(gòu)、表面電子態(tài)及表面物理化學(xué)過程等信息，具體的高端分析技術(shù)如AES、XPS、TOF-SIMS、D-SIMS、FIB、TEM、XRD等，現(xiàn)場(chǎng)專業(yè)觀眾慕名而來，與美信檢測(cè)專業(yè)技術(shù)工程師共同探討技術(shù)問題。

該展會(huì)展示的項(xiàng)目可檢測(cè)納米級(jí)微區(qū)元素定量分析、極表面元素定量分析、元素濃度深度剖析、納米級(jí)超薄膜厚分析、元素價(jià)態(tài)分析、微米級(jí)微區(qū)元素定量分析、ppm級(jí)別痕量有機(jī)物分子式分析、ppb級(jí)別摻雜雜質(zhì)元素濃度深度剖析、微區(qū)定位切割、電路修改、晶體取向分析、晶格參數(shù)測(cè)定等等。美信檢測(cè)致力于材料檢測(cè)，針對(duì)納米材料相關(guān)檢測(cè)項(xiàng)目已非常完善，美信檢測(cè)可大大降低材料技術(shù)領(lǐng)域創(chuàng)新團(tuán)隊(duì)的創(chuàng)業(yè)成本和創(chuàng)業(yè)難度，提升轉(zhuǎn)化效率和成功率，推動(dòng)項(xiàng)目的研發(fā)和產(chǎn)業(yè)化，搶占材料技術(shù)領(lǐng)域制高點(diǎn)，也可幫助企業(yè)保證產(chǎn)品質(zhì)量，降低研發(fā)成本，為各企業(yè)提供一站式檢測(cè)咨詢服務(wù)。

AES分析某元器件起泡位置存在S污染
晶粒度	FIB電路鍍層厚度觀察

本屆納博會(huì)大咖云集，市委常委、副市長(zhǎng)、園區(qū)工委書記王翔出席開幕式。并邀請(qǐng)美國(guó)科學(xué)院院士楊培東教授、澳大利亞科學(xué)院和工程院院士余艾冰教授、中科院院士江雷研究員和美國(guó)斯坦福大學(xué)崔屹教授，中國(guó)納米科學(xué)中心納米標(biāo)準(zhǔn)研究室主任葛廣路等一批國(guó)內(nèi)外知名專家、企業(yè)家，美信檢測(cè)在參加展會(huì)的同時(shí)，不斷吸收先進(jìn)的技術(shù)，致力于為客戶提供專業(yè)的技術(shù)服務(wù)。

*** 結(jié)束 ***

MTT（美信檢測(cè)）是一家從事材料及零部件品質(zhì)檢驗(yàn)、鑒定、認(rèn)證及失效分析服務(wù)的第三方實(shí)驗(yàn)室，網(wǎng)址：www.tywhcyw.com.cn，聯(lián)系電話：400-850-4050。