自從索尼于2016年推出基于微LED技術(shù)的CLEDIS（水晶LED集成結(jié)構(gòu)）顯示器以來(lái)，微LED顯示器的商業(yè)化已經(jīng)接近現(xiàn)實(shí)。

數(shù)字研究認(rèn)為，由于傳遞關(guān)鍵技術(shù)尚未成熟，微型LED將初步應(yīng)用于不需要高ppi（像素每英寸）水平的智能可穿戴設(shè)備和大尺寸顯示器。

日本索菲亞大學(xué)的科學(xué)與技術(shù)研究生院，東京大學(xué)工業(yè)科學(xué)研究所的研究人員和位于美國(guó)的Ostendo Technologies正在開(kāi)發(fā)單片工藝，在微型LED晶圓上形成RGB陣列，可以直接在顯示器上使用。

根據(jù)目前的發(fā)展情況，微型LED技術(shù)應(yīng)用的方向有兩個(gè): 一個(gè)是可穿戴設(shè)備200-300ppi的小型顯示器，另一個(gè)是55英寸和更小的ppi顯示器，如15ppi。當(dāng)從遠(yuǎn)處觀看時(shí)，低分辨率是不可知的。

隨著全球LED市場(chǎng)需求的進(jìn)一步加大，我國(guó)LED產(chǎn)業(yè)發(fā)展面臨巨大機(jī)遇。在新產(chǎn)品新技術(shù)的創(chuàng)新實(shí)施過(guò)程中，質(zhì)量仍是重中之重。我國(guó)的 LED產(chǎn)品普遍存在質(zhì)量較差、可靠性不高。LED質(zhì)量的好壞與可靠性水平?jīng)Q定了我國(guó)LED到底能夠走多遠(yuǎn)。

美信檢測(cè)工程技術(shù)人員在LED質(zhì)量評(píng)價(jià)、失效分析、壽命評(píng)估等領(lǐng)域有著豐富的經(jīng)驗(yàn)，針對(duì)客戶(hù)在研發(fā)、生產(chǎn)、可靠性試驗(yàn)及售后等階段提供全套解決方案，對(duì)縮短產(chǎn)品的研發(fā)周期，優(yōu)化生產(chǎn)工藝、促進(jìn)產(chǎn)品升級(jí)換代，提高企業(yè)生產(chǎn)效率起著重要作用。

LED全面解決方案

1. 失效分析全面解決方案

死燈、暗亮、光衰、漏電、散熱不良、光學(xué)性能不佳、硫化失效。

意義：

1、提供led產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)，指引其可靠性工作方向；

2、查明失效根本原因，有效提出并實(shí)施可靠性改進(jìn)措施；

3、提高成品產(chǎn)品成品率及使用可靠性，提升企業(yè)核心競(jìng)爭(zhēng)力；

4、明確引起產(chǎn)品失效的責(zé)任方，為司法仲裁提供依據(jù)。

2. 外延芯片的測(cè)試與評(píng)估

• 尺寸測(cè)量

• 粗糙度測(cè)試

• 量子阱結(jié)構(gòu)分析

• 靜電測(cè)試

• 表面形貌觀察

• 外延層摻雜元素分析

• 缺陷定位

3. 熱學(xué)測(cè)試與評(píng)估

• 紅外熱像測(cè)試

• 材料導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試

• 熱傳導(dǎo)/熱對(duì)流模擬分析

• EDA散熱分析

• 瞬態(tài)結(jié)構(gòu)熱阻測(cè)試（T3ster）

4. 電學(xué)測(cè)試與評(píng)估

• 電參數(shù)測(cè)試

• 抗靜電能力測(cè)試

5. 光學(xué)測(cè)試與評(píng)估

• 光參數(shù)測(cè)試

• 光源近場(chǎng)光強(qiáng)分布測(cè)試

• 燈具光學(xué)模擬分析

• 光源遠(yuǎn)場(chǎng)光強(qiáng)分布測(cè)試

6. 可靠性測(cè)試

冷熱沖擊、高溫存儲(chǔ)、低溫存儲(chǔ)、濕熱循環(huán)、高溫高濕壽命、振動(dòng)測(cè)試等。

美信檢測(cè)借助科學(xué)的檢測(cè)分析方法、專(zhuān)業(yè)的工程技術(shù)人員和精良的儀器設(shè)備，幫助客戶(hù)解決在產(chǎn)品研發(fā)、生產(chǎn)、貿(mào)易等環(huán)節(jié)遇到的各種與材料相關(guān)的工程、科學(xué)和技術(shù)問(wèn)題。